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PRODUCT CATEGORYSOPTOP AWL 系列半導體晶圓缺陷檢測/國產(chǎn)晶圓搬運機是由高精度光學檢測顯微鏡搭載全自動晶圓搬運系統(tǒng)組成,支持4-12寸的晶圓尺寸,可輕松實現(xiàn)多角度、全視野的宏觀檢查、以及晶圓微觀細節(jié)的高清捕捉,可對半導體過程工藝中的關鍵參數(shù)、缺陷問題進行有效監(jiān)控,是晶圓來料檢測和工藝控制流程缺陷分析的高效利器。
更新日期:2024-01-31
型號:AWL系列
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
MS高精度工具測量顯微鏡結合了金相顯微鏡的高倍觀察能力,和影像測量儀的 X、Y、Z 軸表面尺寸測量功能,具備明暗場、微分干涉、偏光等多種觀察功能。可廣泛應用于半導體、PCB、LCD、手機產(chǎn)業(yè)鏈、光通訊、基礎電子、模具五金、醫(yī)療器械、汽車行業(yè)、計量行業(yè)等領域的檢測。
更新日期:2024-01-31
型號:MS系列
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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